Shenzhen GBIT Testing Technology Co., Ltd
电子设备在其整个生命周期中都容易受到静电放电 (ESD) 损坏，尤其是从完成硅晶圆加工到设备组装到系统中。最常用的 ESD 测试模型是人体模型 (HBM) 和带电器件模型 (CDM)。这两种模型都评估设备的 ESD 敏感性，但是由于电子设备的自动化处理、制造和组装的快速增长，CDM 已成为现实世界中主要的 ESD 事件模型。
该本白皮书描述了 CDM ESD 事件，并解释了 IC 设计人员如何使用在接口 IP CDM 鉴定阶段测量的峰值电流水平来获得 SoC 的实际 CDM 电压水平。
本白皮书涉及的主题是：
带电设备模型的原理
在 CDM 模拟环境中进行测试
片上 ESD 网络
使用峰值电流进行接口 IP CDM 鉴定
评估最终产品中的 IP CDM 性能
请发邮件dongni.zhang@gbit.net.cn 索取申请白皮书
