Shenzhen GBIT Testing Technology Co., Ltd
噪声系数经常被用来测试器件的附加噪声。噪声系数用来表征由源端阻抗不同引起的器件，噪声性能的变化。了解您器件的噪声参量是十分必要的，尤其是在使用失配晶体管设计低噪声放大器的时候。
易捷测试毫米波噪声系数表征测试解决方案集成世界最领先的测试仪器和测量设备，以及最好的微波建模技术。 该测试方案速度比传统方法提高了100倍。设置简单，易于配置，整个校准和测量过程非常快，使得密集的频率间隔变得切实可行。新方法产生更平滑的数据，散射更少，密集的频率间隔消除了由于混叠引起的移位，并且更容易识别散射和异常值。
易捷测试的噪声测试集成方案使用带有集成噪声接收器，噪声源以及Maury的调谐器和软件的Keysight PNA-X网络分析仪，可以在几分钟而不是几天内进行噪声参数测量。使用完整的噪声参数表征分钟而不是几天。
为什么测量噪声参数？
● Optimize match of non-50-ohm devices (e.g. FETs generally have high Z in and Low Z out)
● Better prediction of system noise performance
** Nominally matached devices will see non-ideal Zo in actual systems
** Noise figure is insufficient to predict noise behavior with mismatch
** Noise parameters account for mismatched sources
● 优化非50欧姆设备的匹配（例如，FET通常具有高Zin和低Zout）
● 更好地预测系统噪声性能
● 名义上匹配的设备将在实际系统中看到非理想的Zo
● Noise数字不足以预测不匹配的噪声行为
● Noise参数说明不匹配的来源
