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Reliability testing system
HCI/BTI封装级可靠性测试仪

HCI/BTI封装级可靠性测试仪

STAr Scorpio HCI/BTI 封装级可靠性测试仪符合 JEDEC 的测试要求,可进行先进、准确的 MOSFET HCI、NBTI 和 OTF 可靠性鉴定。
Customer service

* The same model of product may have multiple versions, and there may be differences between different versions of the product (including functional parameters, logo design, appearance details, product information, etc.). Please refer to the actual product for accuracy

Product Overview
Product specifications
External dimensions

Star Scorpio HCI/BTI封装级别可靠性测试仪配备了JEDEC符合预期和准确的MOSFET HCI,NBTI和OTF可靠性资格的测试要求。

于 MPI 知名且成熟的 TS3000 和 TS3000-SE 300 mm 探针台,通过配置 MPI 独特的 WaferWallet 或 WaferWallet®®MAX 进行升级,增加了全自动功能。 MPI 的解决方案通过以低于其他供应商的半自动化产品的价格提供完全自动化来降低客户的总体测试成本。

它结合了MPI先进技术,如PHC™,作为标准功能,mDrive™和/或VCE™可选或作为现场升级。

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