Shenzhen GBIT Testing Technology Co., Ltd
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Email: dongni.zhang@gbit.net.cn
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日本 Hanwa ESD 测试设备|HED-W5000M 晶圆ESD测试机
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日本 HANWA ESD（静电放电）测试是在半导体可靠性测试期间进行的。ESD测试对于半导体设计的开发和半导体制造的最终生产过程中的质量保证都是必不可少的。
现在可以对封装和晶圆进行 ESD 测试！
HED-W5000M 晶圆ESD测试机
l 价格适中的多功能手动晶圆级测试仪。
l 专用软件可用于泄漏测量和判断。
l 适用于大多数类型的手动探针台。
功能特点：
1. 可显示真实设备的 ESD 波形 2. 可在放电后自动对 V/I 测量值进行破坏性评估，性价比极高。 3. 执行 HBM/MM 电晕（符合 JEDEC/ESDA/JEITA）。 4. 用两根针连接任何设备，如晶圆。 5. 可在客户的手动 PROBER 上安装斩波装置。 6. 包装设备的测试结果一目了然。 |
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操作屏显示案例：
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