Shenzhen GBIT Testing Technology Co., Ltd
CDM ESD测试是一种检测半导体芯片在充电后与导体接触时的静电放电抗扰度的方法。它通常在半导体制造的最后阶段进行，以确保芯片的性能和可靠性。CDM ESD测试的目的是防止静电损坏芯片的内部结构和电路，导致功能失效或参数变化。
CDM ESD测试设备是用于检测半导体器件在充电后与导体接触时的静电放电抗扰度的设备，它可以模拟制造和装配过程中可能发生的ESD事件，以确保器件的性能和可靠性。
ESD-CDM测试系统优势：
符合国际标准：HANWA CDM ESD测试设备可以按照所有常用的行业标准进行FICDM（空气放电）测试或CCDM（接触）测试，例如JS-002，JEDEC，ESDA，AEC等。这样可以保证测试的一致性和可比性，避免不同的测试方法导致不同的结果和判断。
高性能和高可靠性：HANWA CDM ESD测试设备具有高性能和高可靠性的特点，例如测试电压最高可达4KV3，短路放电电路可以最大限度地减小电感和电容对数据的影响1，CCD摄像机可以提供清晰的图像2，DC测试和向量功能测试可以提供更多的信息3。这些特点可以提高测试的准确性和效率，降低测试的成本和时间。
简单易用：HANWA CDM ESD测试设备具有简单易用的特点，例如硬件软件的使用操作简单，容易上手3，可以快速转换不同标准的测试1，可以根据测试管脚数和测试用途来选择型号。这些特点可以提高测试的便利性和灵活性，适应不同的用户需求和场景。
