Contact Us
Follow Us
HANWA ESD/CDM/TLP/Static discharge damage
Hanwa Electric Products 简介| 易捷测试GBITEST

Hanwa Electric Products 简介| 易捷测试GBITEST

阪和电子工业株式会社创始于1966年,上世纪80年代开始自主研发半导体领域所使用的的相关测试设备。(ESD: Electronic Static Discharge)静电破坏测试机最初研发时只有256
Customer service

* The same model of product may have multiple versions, and there may be differences between different versions of the product (including functional parameters, logo design, appearance details, product information, etc.). Please refer to the actual product for accuracy

Product Overview
Product specifications
External dimensions

Hanwa Electric Products


阪和电子工业株式会社创始于1966年,上世纪80年代开始自主研发半导体领域所使用的的相关测试设备。

(ESD: Electronic Static Discharge)静电破坏测试机最初研发时只有256pin,现在根据客户的需求甚至可以做到1024pin,满足更高阶的晶圆硅片测试需求。此外,阪和电子还向解析装置扩展,研发出了具备多功能检测、ESD保护电路回路等机能的TLP(Transmission Line Pulse)测试装置。随着公司的发展,不光受到日本本土企业的青睐,更是在全球市场上,得到了海外客户的一致认可。

近年来,随着新能源汽车和汽车芯片的崛起,车规芯片的静电测试需求都应满足 AEC Q101/102 ,同时对设备可视化需求的扩大,HANWA的ESD 可视化设备也已经在国内外行家被多方认可。


易捷测试是日本 Hanwa 公司的主要提应商,主要供应hanwa半导体芯片ESD测试设备,ESD全自动测试设备,晶圆ESD测试机,半导体TLP测试仪,以及CDM测试仪


1604144517776184.png










产品名/型号设备说明设备介绍

HED-G5000
HED-G5000

全自动静电破坏装置的高性能版本出现了

测试符合国际标准是可能的。
(JEDEC,ESDA,AEC, JEITA)

该系统独特的短路放电电路由原机设计成为可能。

短路可最大限度地减小电感和电容对数据的影响。
另外,通过使用单个电路,保证了每个器件引脚的数据稳定性。



HED-S5000-DCPC
HED-S5000R-D

全自动静电放电设备的传统机台

此设备是符合日本及国际标准的高可靠性设备

(满足JEITA / ESDA / JEDEC规格)可用于闩锁测试,并适用脉冲电流法·电源过电压·ESD脉冲印加法




click

HED-S5000
HED-S5000R

销售实绩No.1

可以通过连接曲线图示仪来轻松地判断pass/fail

可根据测试管脚数以及测试用途来选择型号



HED-N5000-DCPC
HED-N5000-DCPC

多管脚高性能全自动静电放电测试机

最大可进行8个器件的测试。最大测试管脚数1024Pin

虽然有一定的限制,但是可以复数同时印加

是满足日本、国际规格的高可靠性设备

(满足JEITA/ESDA/JEDEC规格) 可用于闩锁测试,并适用脉冲电流法·电源过电压·ESD印加法

也可通过DC测试判断pass/fail,以及作为可添加选项,可以利用向量来进行功能测试


click

HCE-5000
HCE-5000

桌上型ESD测试仪

测试操作简单的便携式静电放电测试设备

兼容泄露测试功能,可单独利用本设备进行ESD的破坏判断




click

HPE-5000
HPE-5000

便携式ESD测试仪

本设备是测试半导体器件的静电破坏强度的设备

作为便携式小型ESD测试机的系列型号,更轻,更小,更加低成本

与本公司传统小型ESD测试机同样,用来特化两管脚间的静电印加,维持与通用设备同等的基本性能(利用ESD印加与漏电流测试来判断pass/fail)