Shenzhen GBIT Testing Technology Co., Ltd
指定芯片承受静电放电 (ESD) 能力的标准一直在发生变化 - 在某些情况下变得更加严格，而在其他情况下则变得宽松。ESD 保护已经从一刀切的方法转变为信号的使用有助于确定应获得哪种保护的方法。保护芯片免受ESD损坏一直是 IC 设计的一个长期组成部分。要求和电路多年来一直保持稳定，因此只需插入 IP 即可继续。直到大约 10 年前，大多数设计人员才需要花费更多精力来做出与 ESD 相关的决策。
系统概述：
HANWA新一代G5000系列ESD 全自动静电破坏检测机已上市，搭载多Pin脚无继电器的GND模组（最高支持MAX2048pin），完全不受寄生电容的影响，实现高精度检测。此设备是符合日本及国际标准的高可靠性设备 （满足JEITA / ESDA / JEDEC规格）可用于闩锁测试，并适用脉冲电 流法·电源过电压·ESD脉冲印加法。汽车电子AEC-Q100标准，车规级集成电路可靠性静电HDM/CDM测试
全自动静放电破坏检测设备 | 全自动晶圆ESD测试仪 |
> 单放电电路 ：新的，专门的机械GND设置，低寄生电容 主要系统设备：HED-G5000
| > 全球唯一可测试12英寸 300mm晶圆ESD全自动静电测试机台。 主要系统设备：HED-W5000
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