Shenzhen GBIT Testing Technology Co., Ltd
HANWA| ESD-TLP测试仪+易捷测试探针台集成
关于日本hanwa与探针台集成的 静电esd-tlp测试系统，TLP 测试仪传输线脉冲
1.TLP的用途 TLP是指传输线脉冲。当同轴电缆中的电荷放电时，会产生矩形波形。我们可以利用这种现象来检查半导体的保护电路特性。重要因素是矩形波形的上升时间。保护电路特性取决于矩形波形的上升时间较快或较慢。因此，将上升时间从高频更改为低频非常重要。TLP测试仪需要小于200 [ps]的上升时间作为理想波形。
2.TLP理论 以下三种方法用于获得TLP波形 （1）TDR（时域折射） TDR是指从DUT拾取反射波形的方法。(2)TDT（时域传输）DUT是指拾取通过DUT的波形的方法。(3)TDTR（时域透射和折射）TDTR是指上述TDR和TDT的组合方法。
直接在放电电路上连接示波器以观察电压波形，并且还使用插入放电电路中的电流探头来获取电流波形。在TDT方法中，示波器和DUT的位置在图1中相反 在TLP的测试中，可以使用滤波器改变矩形的上升时间。但是，脉冲宽度可以通过仅调整同轴电缆的长度来改变。图2显示了TLP电路的组成。
脉冲宽度 T=2L1/V T：脉冲宽度 （ns），L1：同轴电缆长度 （mm） V = 2.0 * 108m/s [示例] 如果 L1 为 20 （m），则脉冲宽度 T 变为 200 （ns）
图3所示的矩形波形可以用图2中的电压表观察。图2中的电压母表示示波器。该波形是所有能量都被DUT消耗，如果L2为10mm，DUT较短，则入射波形和反射波形如下图所示。入射波形和反射一之间的关系如图4中的左图所示。还有电压表（示波器）图中所示的波形如图4所示。
图5所示的电流波形可以通过使用电流表得到。入射波形和反射一之间的关系如图5中的左图所示。波形如图5所示的电流表（电流探头）右图。
