光电探测器参数自动测试系统解决方案

系统方案简介：

光电探测器参数自动测试系统为我司专门为PD类光电探测器芯片开发的一套完整的集IV、CV、光响应度等测试应用的交钥匙在片系统，主要用于解决客户PD类芯片的研发和自动化筛选测试，系统经验源于易捷测试在光电模块、光电器件To封装以及探针台领域多年的测试经验。

易捷测试推出业界领先的光电探测分析测试系统解决方案，该系统包含半自动探针台、半导体参数分析仪、LCR测试仪表、激光光源、自动控制测试软件，并配套打点功能，支持晶圆从2英寸到8英寸整片测试，并支持碎片的测试，含自动XY修正和目前业内最先进的Auto-Z技术。

快速、高效、稳定的光电探测器参数自动测试系统

易捷测试系统技术解决方案：

主要由高精度半自动光电探针台、测试仪表及自动控制软件组成，自动光控制测试光电探测器参数并进行判别比较，具有管理、存储、处理及报表功能。