系统集成软件
易捷测试长期专注于微波射频测量系统集成和半导体芯片测试系统解决方案。公司始终秉承“测试设备就是可靠保障”,“客户的成功就是我们的荣耀”的服务理念,经过多年的践行和积累,已在业界打下坚实的基础和享有良好口碑,赢得国内各大企业,高校及研发机构的信任和长期合作。
易捷测试推出全新升级版半导体测试软件平台GBITEST。致力于为用户搭建完美的软件测试平台,快速建立仪表与探针台的连接。
系统软件特点
RF专家解决方案
快速加载,一键开启数据测试
易用性高,拖拽即所得
分层式 功能管理,分类直观
自动多线程
数据采集与处理支持分序列执行,最大化提高测试效率
整体方案移植
快速简单复制,可将单台机器配置好的方案导入到其他电脑
Wafer-Level Auto Testing
扩展性高
分布式模块管理
完整的自动测试方案,经过验证的成熟操作系统
灵活性强
强大数据处理
即拖即用,通过工具拖拽,序列编辑,快速高效. 。
GBITEST~芯测软件
典型的应用加载界面
典型应用提供测试模板功能,在其基础上进行修改
新建工程,自主测试
客户自定义测试序列,针对研发类型客户,测试产品多,测试 序列频繁变更的情况
一站式解决仪器与探针台控制
搭建完美的软件测试平台,快速建立仪表与探针台的连接。RF芯片测试
PA类 LNA类 滤波器
测试结果分BIN
丰富 多样 及时
RF芯片产线测试
如鱼得水般轻松完成
RF在片检测平台软件主要针对RF芯片产线测试的工业场景;软件旨在提供一个通用、易用的二次开发平台,基于该平台客户通过序列编程,快速高效地完成RF器件在片检测类应用项目的开发。
模块分布
灵活性高、扩展性强
方案管理
解决客户不懂测试 无法进行硬件选型问题
自定义测试
解决客户多种测试问题
RF在片检测平台软件-结果显示
结果展示
RF在片测试结果
软件
MAP编辑器
MAP多种格式输出
10万级别DIE的编辑
快速的数据处理功能
支持多格式数据导出
支持每个Die数据存储
支持多参数的查询功能