HANWA HED-C5000R CDM测试设备
HANWA ESD-CDM测试仪：
ESD（静电放电）测试是在半导体可靠性测试期间进行的。ESD测试对于半导体设计的开发和半导体制造的最终生产过程中的质量保证都是必不可少的。
1）满足JS-002，JEDEC，ESDA，AEC等全球CDM模型测试规范
2）测试电压最高可达4KV，为同类型机台最高
3）供应商为JS-002规格制定委员会成员，技术可靠
4）硬件软件的使用操作简单，容易上手，为全球半导体Leading company的推荐使用机型
5）唯一具有D-AEC充放电功能的CDM测试机台
HED-C5000R
Hanwa CDM测试机
l 符合JEDEC、ESDA、JEITA ，AEC，EIAJ），
l 可快速转换不同标准的测试
l 台式尺寸，紧凑，准确可靠的CDM测试仪。
l 配备的CCD摄像机
l 提供FI-CDM和D-CDM模式。
l 可以测量每个引脚的电容。
尺寸：W575 x D400 x H300 Weight 35Kg Compact Desktop Size
CDM 测试机
此设备是用来测试接触不同电位物质时的破坏性设备
| 产品名/型号 | 设备说明 | 设备介绍视频 |
|---|---|---|
 HED-C5000R | 此设备是符合日本及国际标准的高可靠性设备 | click |
符合所有主要国际标准：
Standard | Standard Number | Method | Calibration tool | |
1 | ESDA/JEDEC Joint Standard | ANSI/ESDA/JEDEC JS-002-2014 | FI-CDM | Small/Large coin(disk) |
2 | JEDEC | JESD22-C101F | FI-CDM | Small/Large coin(disk) |
3 | ESDA | ANSI/ESD S5.3.1-2009 | FI-CDM or D-CDM | FI-CDM: 4pF/30pF module (*1) D-CDM: 4pF/30pF module (*2) |
4 | AEC | AEC - Q100-011 Rev-C1 | FI-CDM or D-CDM | FI-CDM: 4pF/30pF module (*1) D-CDM: 4pF/30pF module (*2) |
5 | JEITA | JEITA ED-4701/302 (Method 305C) | D-CDM | Small/Large coin(disk) + FR-4 board |
