毫米波多功能MMIC自动测试系统解决方案

随着芯片高度集成化的要求，近几年多功能MMIC得到广泛应用，同时伴随着频率越来越高、器件射频端口数越来越多，对于on-wafer级别毫米波多功能MMIC测试的可靠性及测试效率面临不小挑战。

易捷测试推出对于毫米波多功能MMIC的 on-wafer 器件测试，传统通常需要使用网络分析仪、扩频模块、测试电缆、探针台、高精度定制电动探针座、探针、控制及校准软件等，才能精确的测量毫米波集成电路的 S 参数，全面的表征和验证元件的特性。深圳市易捷测试技术有限公司的毫米波多功能MMIC自动测试系统解决方案基于 Keysight PNA-X 、扩频模块、半自动探针台、高频探针、自主开发的高精度电动探针座及配套控制软件，可以覆盖毫米波多通道芯片的测量。

应用：

易捷测试集成基于 Keysight PNA-X 、扩频模块、半自动探针台、高频探针、自主开发的高精度电动探针座及配套控制软件的一套毫米波多功能MMIC自动测试系统解决方案：

测试系统包括：

       Keysight PNA-X 、扩频模块、半自动探针台、高频探针、自主开发的高精度电动探针座及配套控制软件，

 具有以下优势：

• 基于Keysight PNAX 、扩频模块，进一步提高测试精度高；

• 多功能MMIC射频端口数较多，通过高精度电动探针座即可实现单个DIE上多端口的自动扎针；然后利用半自动探针台实现全片测试的移动。

• 使用高频的探针可支持毫米波芯片的测量，独有的功率校准软件能校准到探针，提高更好的系统稳定性；