高低温探针台| MPI 8英寸高低温半自动探针台TS2000-SE

 

MPI TS2000-SE 高低温半自动探针台 


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产品特点:


适用于多种晶圆量测应用
• 模块量测 - DC-IV / DC-CV / Pulse-IV
• 射频和毫米波 - 26 GHz 至 110 GHz 及以上
• 失效分析 - 探针卡 / 节间探测
• 可靠性测试 - 热/ 冷 / 长时间测试
• 高功率测试 - 至高 10 kV / 600 A


MPI ShielDEnvironment™ 屏蔽环境
• 专为 EMI / RFI / Light-Tight 屏蔽所设计的精密量测环境
• 支援飞安级低漏电值量测
• 温度量测范围 -60 °C 至 300 °C


工效学设计及弹性选配
• 便利的晶圆单片上片,搭配简单快速的晶圆预对准功能,实现自动化流程简单化
• 垂直点测控制环境 (Vertical Control Environment, VCE™),方便安全有效地侧面观察点测区域
• 内建防震系统
• 完整的硬件操控整合,方便更快速安全的量测操作
• 安全测试管理系統 (Safety Test Management, STM™) 选配,方便在任意温度进行上片/下片,并自动进行露点控制



设备简介:     

MPI探针台 TS2000-SE是市场上首款晶圆200 mm自动化工程探测系统,MPI半自动探针台集成了专为降低测试成本而设计的创新功能。这些功能集成在MPI ShielDEnvironment™中,可实现超低噪声,非常精确和高度可靠的DC / CV,RF和高功率测量。

  机台特征:


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