HANWA HED-C5000R CDM测试设备 | 汽车芯片AEC标准测静电测试设备

近年来，自动驾驶技术逐渐成为Tier1汽车电子智能系统的最先进技术，解决自动驾驶技术的关键在于提升自动驾驶芯片的可靠性，保障汽车运行中的安全。目前国内尚未有关于汽车芯片可靠性的标准，而是基于国际AEC-Q100系列标准而进行汽车芯片可靠性测试，其中一环节就是要对汽车芯片进行CDM和HBM的静电相关测试。

日本HANWA ESD-CDM测试仪：

ESD（静电放电）测试是在半导体可靠性测试期间进行的。ESD测试对于半导体设计的开发和半导体制造的最终生产过程中的质量保证都是必不可少的。适用于汽车电子AEC-Q100标准，车规级集成电路可靠性静电HDM/CDM测试

1）满足JS-002，JEDEC，ESDA，AEC等全球CDM模型测试规范

2）测试电压最高可达4KV，为同类型机台最高

3）供应商为JS-002规格制定委员会成员，技术可靠

4）硬件软件的使用操作简单，容易上手，为全球半导体Leading company的推荐使用机型

5）唯一具有D-AEC充放电功能的CDM测试机台

符合所有主要国际标准:

	Standard	Standard Number	Method	Calibration tool
1	ESDA/JEDEC Joint Standard	ANSI/ESDA/JEDEC JS-002-2014	FI-CDM	Small/Large coin(disk)
2	JEDEC	JESD22-C101F	FI-CDM	Small/Large coin(disk)
3	ESDA	ANSI/ESD S5.3.1-2009	FI-CDM or D-CDM	FI-CDM: 4pF/30pF module (*1)  D-CDM: 4pF/30pF module (*2)
4	AEC	AEC - Q100-011 Rev-C1	FI-CDM or D-CDM	FI-CDM: 4pF/30pF module (*1)  D-CDM: 4pF/30pF module (*2)
5	JEITA	JEITA ED-4701/302 (Method 305C)	D-CDM	Small/Large coin(disk) + FR-4 board

HED-C5000R

 Hanwa CDM测试机

l 符合JEDEC、ESDA、JEITA ，AEC，EIAJ），

l 可快速转换不同标准的测试

l   台式尺寸，紧凑，准确可靠的CDM测试仪。

l   配备的CCD摄像机

l   提供FI-CDM和D-CDM模式。

l   可以测量每个引脚的电容。

尺寸：W575 x D400 x H300 Weight 35Kg  Compact Desktop Size

CDM 测试机

此设备是用来测试接触不同电位物质时的破坏性设备