HANWA TLP测试 HED-T5000 传输线脉冲 TLP测试设备
Hanwa Electric Products |易捷测试提供 HANWA TLP测试设备
ESD（静电放电）测试是在半导体可靠性测试期间进行的。ESD测试对于半导体设计的开发和半导体制造的最终生产过程中的质量保证都是必不可少的。
HED-T5000 |T5000-VF |T5000-HC
TLP 测试机
l 用于获取器件保护电路的相关参数特性
l 为器件升级提供支持，缩短产品周期
l 提供普通和VF（非常快）型号。VF模型提供正常（100nm / 200nm）和VF（1nm-）脉冲宽度。
l 具有半自动探针台整合功能的可选自动测试可大大提高生产率。
l 可与HED-W5000，ESD（HBM，MM）测试仪结合使用现在提供大电流输出型号（T5000-HC）。
TLP（传输线脉冲）检测仪可以得到半导体中保护电路的活度参数。 为了提高ESD耐压性能，需要分析保护电路。测试结果中包含了许多有用的信息，节省了半导体开发过程的时间。 |
HEC-T5000/T5000-VF
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产品特点：
| TLP测试中最先进的测试模式 | NTLP（正常的TLP）和VFTLP（非常快的TLP/短脉冲型TLP）类型都提供给我们的客户。正常型TLP的脉 冲宽度为100ns/200ns，VFTLP为1ns。这些功能可用于验证HBM/MM测试模式下的ESD耐压。 |
| 使用功能强大的监视器来支持分析 | TLP测试仪中包含的示波器允许确认一个到设备的入射波和一个来自设备的反射波。入射波和反射波自 动保存后，显示在专用显示器上。专用监视器显示入射波和反射波，以及通过跟踪进行Vf/Im测量的总 反弹特性和泄漏测量值。 |
| 特征数据的差异显示 | 从示波器保存的数据允许具有较高灵活性的算术过程。它们可以在差分过程中显示晶体管的接通电压 或在保护电路中的最大电流值同时显示为多个轨迹。可以确认每个轨迹的差值。 |
| 连接到晶片ESD测试仪 | TLP测试仪可连接晶圆ESD测试仪，可实现自动测量。自动测量和自动转移到下一个zap引脚和晶圆片 上的下一个芯片，可以提高测试效率。 |
数据和分析：
 | 可以从PC设置脉冲极性,脉冲宽度和步跃电压.步进电压 在测试中间会发生变化. 为设备保护,电压限流器为 安装在测试仪中. 具备Vf/Im泄漏测量能力.设置 测量点最大为20个点. 装置的破坏性评价可以具有泄漏测量能力.破坏性级别取 决于所设置的阈值. |
 | 示波器和监视器可以显示入射波和 针对TLP脉冲的总电压/电流的反射波。 测量窗口的宽度和位置可以通过使用光标来调整轨迹。 为了检查工艺技术的变化，TLP测试仪在同一监视器上显 示多个快回特性。 快回特征测点与破坏性判断轨迹的关系是一一对应的。它 可以比较和验证装置的破坏点和快回特性。 泄漏测量值Vf/Im可以确认泄漏电流 对于每个TLP脉冲 |
标准参数
TLP 测试机 产品系列
此设备是对保护电路的工作特性进行模拟测试的设备
对集成电路里保护电路的工作参数的收集与分析有很大帮助
也可进行VF-TLP测试
| 产品名/型号 | 设备说明 |
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 HED-T5000/ | 此设备配备了最先进的测试模式 |
 HED-T5000-HC | 目前，对于半导体器件的高集成度・高频・高耐压的需求逐年增加 |
